测量技术新突破，高精度大尺寸测量不再是梦
测量技术新突破，高精度大尺寸测量不再是梦对机器视觉几何尺寸测量来说，其测量尺度正在向两个极端发展：小尺寸测量和大尺寸测量。小尺寸方向正在进行微米测量和纳米测量的研究与应用。大尺寸测量主要指几十厘米到米范围内物体的空间坐标（位置）、尺寸、形状、运动轨迹等的测量，而且大尺寸测量越来越趋向于高精度测量。大尺寸测量经常使用的仪器有： 三坐标 经纬仪 激光扫描仪 上面的测量仪器虽然都可以解决大尺寸方面的尺寸测量，但是在仪器体积、测量稳定性、精度方面远远无法满足高精度大尺寸测量要求。那我们有没有什么技术可以让测量精度达到小尺寸测量，但是同时能够对大尺寸物件进行尺寸测量呢？答案是肯定的，欣维视觉新开发的图像拼接技术成功的解决了上述难题，并且成功应用在大尺寸手机外壳尺寸测量上，具体如下： 视觉系统先分别对手机壳进行6次取图，然后通过欣维视觉开发的图像拼接技术，把6附图片拼接成一张整图，在整图里面对相关尺寸、位置等进行测量。此技术可以广泛引用在电子产品外壳尺寸测量，例如电脑、平板电脑；同时也可应用在大型机械加工件尺寸测量方面，例如汽车零部件里面相关部件位置度测量等。